GSI HELMHOLTZZENTRUM FUER SCHWERIONENFORSCHUNG GMBH;GSI Helmholtzzentrum für Schwerionenforschung GmbH
发明人:
BERT, CHRISTOPH,LUECHTENBORG, ROBERT
申请号：
EP10752535.4
公开号：
EP2504061A1
申请日:
2010.08.31
申请国别(地区):
EP
年份:
2012
代理人:
摘要：
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Steuerung der Dosisapplikation bei der Bestrahlung eines beweglichen Zielvolumens in einem Körper mit einem energetischen Strahl, insbesondere mit einem nadelfeinen Ionenstrahl mit welchem das Zielvolumen abgerastert wird, sowie eine Bestrahlungsvorrichtung mit Bauelementen, welche das Verfahren implementieren. Es wird vor der Bestrahlung einer i-ten Rasterposition während des Bestrahlungsdurchlaufes unter Verwendung der Bewegungsdaten diejenige Dosis ermittelt, welche die i-te Rasterposition bei der Bestrahlung der vorherigen Rasterpositionen (1<；=k<；i) bereits erhalten hat. Nachfolgend wird in Abhängigkeit von der ermittelten Dosis, welche die i-te Rasterposition bei der Bestrahlung der vorherigen Rasterpositionen (1<；=k<；i) bereits erhalten hat, ein Kompensationswert für die i-te Rasterposition berechnet und in Abhängigkeit von dem Kompensationswert für die i-te Rasterposition und von der nominellen Teilchenfluenz für die i-te Rasterposition wird eine kompensierte Teilchenfluenz (Fikomp) für die i-te Rasterposition berechnet, um die i-te Rasterposition mit der für die i-te Rasterposition ermittelten kompensierten Teilchenfluenz (Fikomp) zu bestrahlen.A method for controlling dosage application during irradiation of a moveable target volume in a body with an energy beam by scanning the target volume includes, before irradiating an i-th grid position, determining a dosage during the irradiation process using the movement data, wherein the dosage already contains the i-th grid position during irradiation of the previous grid positions (1<；=k<；i). Depending on the determined dosage that already contains the i-th grid position during the irradiation of the previous grid positions (1<；=k<；i), a compensation value for the i-th grid position is calculated, and depending on the compensation value and on the nominal particle fluence for the i-th grid position, a compensated particle fluence (Fikomp) is calculated for
