一种多谱线组合激光诱导击穿光谱谷类作物产地识别方法
- 专利权人:
- 华中科技大学
- 发明人:
- 李祥友,杨平,郭连波,朱毅宁,曾晓雁,陆永枫,李嘉铭,杨新艳,唐云
- 申请号：
- CN201610802039.4
- 公开号：
- CN106404748A
- 申请日:
- 2016.09.05
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 曹葆青
- 摘要：
- 本发明公开了一种多谱线组合激光诱导击穿光谱谷类作物产地识别方法，该方法包括建立SVM分类模型和产地识别二个过程，采用支持向量机算法，结合LIBS快速物质分析的优点，对不同产地大米进行快速、准确分类，并采用信背比较大的、且彼此相近的同一元素多条特征谱线组合的方式增强不同产地谷类作物(如大米)之间的差异性，从而提高算法的识别精度。该方法将激光诱导击穿光谱技术与SVM算法结合起来，以期达到快速准确识别的目的。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
