The light source device (100) includes a semiconductor light source (131, 132, 133), a light source control unit (114), an optical sensor (141, 142, 143), a sensor control unit (112), and an intensity adjustment unit (115. ). The light source control unit (114) controls the amount of light emitted from the semiconductor light source for each field by pulse width modulation. The optical sensors (141, 142, 143) acquire the amount of received light by receiving the light emitted from the semiconductor light source. The sensor control unit (112) causes the optical sensor to detect in an exposure period shorter than the minimum pulse width in the pulse width modulation, and acquires the received light amount acquired by the optical sensor. The intensity adjusting unit (115) adjusts the emission intensity of the semiconductor light source based on the amount of received light.光源装置（１００）は、半導体光源（１３１，１３２，１３３）と、光源制御部（１１４）と、光センサ（１４１，１４２，１４３）と、センサ制御部（１１２）と、強度調整部（１１５）とを備える。光源制御部（１１４）は、前記半導体光源から射出される光のフィールド毎の光量を、パルス幅変調によって制御する。光センサ（１４１，１４２，１４３）は、前記半導体光源から射出された光を受光することで受光量を取得する。センサ制御部（１１２）は、前記光センサに前記パルス幅変調における最小パルス幅よりも短い露光期間で検出させて、前記光センサが取得した前記受光量を取得する。強度調整部（１１５）は、前記受光量に基づいて、前記半導体光源の発光強度を調整する。
