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X線測定装置
专利权人:
HITACHI LTD
发明人:
SANEMASA MITSUHISA,実政 光久,MIYAMOTO TAKANORI,宮本 高敬,ADACHI RYUTARO,足立 龍太郎,KAWAKAMI YOSHITO,川上 嘉人
申请号:
JP2015230893
公开号:
JP2017093911A
申请日:
2015.11.26
申请国别(地区):
JP
年份:
2017
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To further improve the accuracy in the measurement of the mass of a subject by an X-ray measurement apparatus.SOLUTION: A fan beam-shaped X ray is projected to a plurality of detection elements 32a from an X-ray irradiator 30. A surface density of each subject part 22a is calculated based on each detection data set (attenuation of the X ray) detected by each detection element 32a. A body thickness of each subject part 22a is also calculated based on each detection data set. A virtual measuring surface is defined at a center location of each subject part 22a in a body thickness direction based on the calculated body thickness. The surface density of each subject part 22a is multiplied by the area of each virtual measuring surface defined in each subject part 22a to calculate a plurality of element unit masses indicating the masses of respective subject parts 22a. The mass of the subject 22 is calculated by summing the plurality of element unit masses.SELECTED DRAWING: Figure 4COPYRIGHT: (C)2017,JPO&INPIT【課題】X線測定装置において被検体の質量の測定精度をより向上させる。【解決手段】X線照射器30から複数の検出素子32aに対してファンビーム形状のX線が照射される。各検出素子32aが検出した各検出データ(X線の減衰量)に基づいて、各被検体部分22aの面密度が演算される。また、各検出データに基づいて、各被検体部分22aの体厚が演算される。演算された体厚に基づいて、各被検体部分22aの体厚方向の中心位置に仮想測定面が定義される。各被検体部分22aの面密度と、各被検体部分22aにおいて定義された各仮想測定面の面積とが乗算され、各被検体部分22aの質量を示す複数の素子単位質量が演算される。複数の素子単位質量を足し合わせることで、被検体22の質量が演算される。【選択図】図4
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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