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一种自适应二次三次谐波联合探测显微成像方法及装置
- 专利权人:
- 哈尔滨工业大学
- 发明人:
- 王伟波,吴必伟,谭久彬
- 申请号：
- CN201910886396.7
- 公开号：
- CN110623641A
- 申请日:
- 2019.19.09
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2019
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及一种自适应二次三次谐波联合探测显微成像方法及装置,属于光学显微成像技术领域;本发明在传统谐波显微装置的探测路径上同时设置二次、三次谐波信号探测模块,利用二向色镜和滤光片实现二次谐波信号和三次谐波信号的分离和滤波,采用独立的光电探测器分别对二次谐波、三次谐波信号进行探测;在系统中引入自适应像差校正装置,用于校正对样品进行大深度探测时存在的像差。本发明装置包括激光扫描系统、自适应像差校正系统、谐波信号激发系统、谐波信号探测系统、宽场成像系统、以及图像重建与数据处理系统。本发明实现了二次、三次谐波信号的联合探测以及样品结构信息的互补,且在大深度探测时保持了成像质量。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
