评估波前测量质量的方法和实现该方法的系统
- 专利权人:
- 想象光学公司
- 发明人:
- 格扎维埃·勒韦克
- 申请号：
- CN201880022164.0
- 公开号：
- CN110546470A
- 申请日:
- 2018.26.01
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2019
- 代理人:
- 摘要：
- 根据一个方面,本说明书涉及一种用于评估光学波前的测量质量的方法,所述测量借助于波前分析仪通过直接测量来获得,该方法包括:‑通过波前传感器获取(10)用于波前测量的光电信号,所述传感器包括二维检测器;‑基于所述光电信号确定(11)表征所述光电信号的寄生分量的参数;‑根据表征所述信号的寄生分量的所述至少一个参数来评估(12)波前的测量的品质因数;‑根据所述品质因数向用户显示(13)测量的质量水平。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
