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基準格子、基準格子の使用方法、及び、基準格子を備える光干渉断層画像診断装置
专利权人:
公益財団法人ヒューマンサイエンス振興財団
发明人:
小澤 総喜,角 保徳
申请号:
JP2010018928
公开号:
JP5577513B2
申请日:
2010.01.29
申请国别(地区):
JP
年份:
2014
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a standard lattice etc. suited to precisely diagnosing an optical interference tomographic image.SOLUTION: The standard lattice 100 is used for diagnosing an optical interference tomographic image, formed of a light-transmitting member, and equipped with two or more grid lines 110 on the member. The two or more grid lines 110 are displayed on the optical interference tomographic image. The standard lattice 100 is fixed on an object, the standard lattice 100 and the object are irradiated with low interference light, the standard lattice 100 and the object are measured based on reflected light of the low interference light reflected by the standard lattice 100 and the object, and an error in a measured dimension of the measured object is specified based on a difference of a measured dimension between the grid lines 110 on the standard lattice 100 and an actual dimension between the grid lines 110.COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT【課題】光干渉断層画像診断を精度よく行うのに好適な基準格子等を提供する。【解決手段】本発明に係る基準格子100は、光干渉断層画像の診断に用いられる基準格子であって、光を透過する部材から構成され、当該部材に複数のグリッド線110を備え、複数のグリッド線110は、光干渉断層画像に表示される。そして、基準格子100を対象物に固定し、基準格子100及び対象物に低干渉光を照射し、当該基準格子100及び当該対象物により当該低干渉光が反射された反射光に基づいて、当該基準格子100及び当該対象物を測定し、基準格子100が備えるグリッド線110間の測定寸法と当該グリッド線110間の実寸法との差に基づいて、測定された対象物の測定寸法に含まれる誤差を特定する。【選択図】図7
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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