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光量検出装置、それを用いた免疫分析装置および荷電粒子線装置
- 专利权人:
- 株式会社日立ハイテクノロジーズ
- 发明人:
- 笠井 優,大西 富士夫,田崎 修,田上 英嗣,田中 一啓
- 申请号：
- JP20170509538
- 公开号：
- JPWO2016158421(A1)
- 申请日:
- 2016.03.16
- 申请国别(地区):
- 日本
- 年份:
- 2018
- 代理人:
- 摘要：
- ホトマル２で検出され、プリアンプ５で増幅され、ディジタル信号に変換された検出信号に対して、予め定めたベース閾値よりも低い信号成分の時間平均値をベース電圧として算出し、ベース電圧が０となるように検出信号をオフセットさせるベース補正処理を行い、ベース補正処理を行った信号に対して、予め定められた信号検出閾値よりも高い信号成分を算出する閾値処理、及びホトマル２への光の未入射状態におけるベース補正処理を行い、その出力信号に対して、予め定めた信号検出閾値よりも高い信号成分を算出する暗電流算出処理を行い、閾値処理で得られた検出光の信号成分から暗電流算出処理で得られた暗電流の信号成分の時間平均値を減算して発光信号量を算出する。これにより、暗電流パルスとフロアノイズとを弁別することにより、ベ
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
