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직접 변환식 광자 계수 검출기 요소들을 구비한 X-레이 검출기 및 상기 X-레이 검출기의 온도 안정화 방법
专利权人:
发明人:
한네만 틸로,크라프트 에드가,니더뢰너 다니엘
申请号:
KR1020130032214
公开号:
KR1015181120000B1
申请日:
2013.03.26
申请国别(地区):
KR
年份:
2015
代理人:
摘要:
present invention is a direct transformation photon counting detector elements (1, 1.1 to 1.20) one or more detector elements of the X- ray detector of the X- ray detector and a CT system (C1) having a - relates to a method for stabilizing the temperature of the (1, 1.1, 1.20), the detector element (1, 1.1 to 1.20) is a radiation using the sensor material to directly convert incident photons into electric charges to the free movement in the sensor material (2) and the first circuit (6), in particular using a ASIC, in particular for image acquisition, pre-set energy in conjunction with the range being determined number of incident photons, the at least one detector element (1, 1.1 to 1.20), the total power is kept constant regardless of the incident intensity of the radiation본원 발명은 직접변환식 광자 계수 검출기 요소들(1, 1.1 - 1.20)을 구비한 X-레이 검출기 및 CT 시스템(C1)의 X-레이 검출기의 하나 이상의 검출기 요소(1, 1.1 - 1.20)의 온도 안정화 방법에 관한 것으로서, 상기 검출기 요소(1, 1.1 - 1.20)는 복사선의 입사 광자들을 센서 재료(2) 내에서 자유 운동하는 전하로 직접 변환하는 센서 재료(2)를 사용하며, 제1 회로(6), 특히 ASIC를 이용하여, 특히 영상 획득을 위해, 사전 설정된 에너지 범위들과 관련하여 입사 광자들의 수가 결정되며, 상기 하나 이상의 검출기 요소(1, 1.1 - 1.20)의 전체 전력은 상기 복사선의 입사 세기와 관계없이 일정하게 유지된다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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