光谱计算机断层扫描(CT)的光谱校准
- 专利权人:
- 通用电气公司
- 发明人:
- 金燕南,付赓,P·M·埃迪克,高河伟
- 申请号：
- CN201780058188.7
- 公开号：
- CN109788926A
- 申请日:
- 2017.12.09
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2019
- 代理人:
- 摘要：
- 本文阐述了一种方法,该方法包括利用CT成像系统的X射线检测器阵列执行一个或多个校准扫描,其中,一个或多个校准扫描包括针对X射线检测器阵列的第一个至第N个元件中的每一个元件获取一个或多个校准测量;并且使用该一个或多个校准测量来更新第一个至第N个元件中的每一个元件的光谱响应模型。在另一个方面中,CT成像系统可使用用于X射线检测器阵列的元件的经更新的光谱响应模型来执行成像,例如包括材料分解(MD)成像。可使用校准过程来更新光谱响应模型,使得X射线检测器阵列的不同元件具有不同的光谱响应模型。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
