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엑스선 영상 장치 및 그 제어 방법
专利权人:
SAMSUNG ELECTRONICS CO.; LTD.
发明人:
KIM, SUNG SUKR,김성수,OH, HYUN HWAKR,오현화,KANG, DONG GOOKR,강동구,KANG, SUNG HOONKR,강성훈,SUNG, YOUNG HUNKR,성영훈,LEE, KANG EUIKR,이강의,HAN, SEOK MINKR,한석민
申请号:
KR1020120156718
公开号:
KR1020140087246A
申请日:
2012.12.28
申请国别(地区):
KR
年份:
2014
代理人:
摘要:
An apparatus for an X-ray image and a method of controlling the same according to an aspect of the present invention estimate an energy response characteristic of an X-ray detection unit, and compensate for distortion of X-ray data based on the estimated response characteristic. The apparatus for an X-ray image according to an aspect of the present invention includes an X-ray generation unit to generate and irradiate an X-ray an X-ray detection unit to acquire X-ray data by detecting the irradiated X-ray and a control unit to convert the X-ray data into an X-ray characteristic coordinate, and to estimate a response characteristic function of the X-ray detection unit from a relationship between measurement data converted into the X-ray characteristic coordinate and reference data.COPYRIGHT KIPO 2014본 발명의 일 측면에 따른 엑스선 영상 장치 및 그 제어 방법은 엑스선 검출부의 에너지 응답 특성을 추정하고, 추정된 응답 특성에 기초하여 엑스선 데이터의 왜곡을 보정하는 엑스선 영상 장치 및 그 제어 방법을 제공한다.본 발명의 일 측면에 따른 엑스선 영상 장치는 엑스선을 발생시켜 조사하는 엑스선 발생부 상기 조사된 엑스선을 검출하여 엑스선 데이터를 획득하는 엑스선 검출부 및 상기 엑스선 데이터를 엑스선 특성 좌표로 변환하고, 상기 엑스선 특성 좌표로 변환된 측정 데이터와 참조 데이터 사이의 관계로부터 상기 엑스선 검출부의 응답 특성 함수를 추정하는 제어부를 포함한다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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