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一种快速超分辨率X射线荧光CT成像及重构系统及方法
专利权人:
重庆大学
发明人:
冯鹏,魏彪,何鹏,陈绵毅
申请号:
CN201410064528.5
公开号:
CN103767726A
申请日:
2014.02.25
申请国别(地区):
CN
年份:
2014
代理人:
摘要:
本发明公开了一种快速超分辨率X射线荧光CT成像及重构系统及方法,其采用源模块、成像模块、处理模块以及移动控制平台组成的成像系统探测样本内部所含高原子序数纳米粒子的浓度及分布;成像模块中后准直器阵列与X射线平板探测器相结合,每个微准直器与样本中特定区域内的纳米粒子相对应,一次成像即可获得样本内部纳米粒子的浓度及分布情况;并基于平板探测器与微准直器在位置以及分辨率方面的关系,进一步微调微准直器阵列的位置后再次成像,多次重复,通过方程求解以实现类似图像插值的结果,提高图像重构质量。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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