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MEASUREMENT DEVICE, MEASUREMENT METHOD, AND ELECTRONIC DEVICE
专利权人:
ソニー株式会社;SONY CORP
发明人:
SHIMURA JUSUKE,志村 重輔
申请号:
JP2013200328
公开号:
JP2015066000A
申请日:
2013.09.26
申请国别(地区):
JP
年份:
2015
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a measurement device which makes it possible to know the behavior of ion species in detail.SOLUTION: A measurement device includes a measurement unit for applying m (where m is an integer greater than or equal to n) different input signals including n (where n is an integer greater than or equal to 2) frequency components to an object under measurement and acquiring m response signals, and an analysis unit for calculating a nonlinear impedance from the m input signals and m response signals.【課題】イオン種の挙動をより詳細に知ることができる計測装置を提供する。 【解決手段】計測装置は、n個(n:2以上の整数)の周波数成分を含む、異なるm個(m:n以上の整数)の入力信号を被計測物に与え、m個の応答信号を取得する測定部と、m個の入力信号およびm個の応答信号から、非線形インピーダンスを算出する解析部とを含んでいる。【選択図】図13
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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