X光定位检测装置及定位检测方法
- 专利权人:
- 公安部第三研究所
- 发明人:
- 温亚珍,丁志平,沈天明,陈嘉敏,李维姣,常青青
- 申请号：
- CN201310283111.3
- 公开号：
- CN103424415A
- 申请日:
- 2013.07.05
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2013
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明公开了X光定位检测装置及定位检测方法，本发明利用X光打在探测器中心位置对应的若干检测点上，并由同一比对片在若干检测点上形成对应的X图像，判断若干检测点处同一比对片所成图像是否位置相同以及图像是否对称来判断若干检测点的光是否在同一平面上，由此完成X光定位检测。利用本发明提供的方案能够在X射线成像系统组装过程中安装X光源时，及时的发现X光源安装所存在的问题，并能够清晰实现X光源安装所存在的问题，便于及时精确的调整，避免后期的整体返工。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
