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光干渉断層撮影装置及び画像処理方法
专利权人:
キヤノン株式会社
发明人:
内田 弘樹
申请号:
JP2013208314
公开号:
JP5701359B2
申请日:
2013.10.03
申请国别(地区):
JP
年份:
2015
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To confirm the success or failure of photographing after photographing.SOLUTION: A plurality of tomographic images of an object to be measured are generated on the basis of return light irradiated to the object to be measured and interference light obtained by interfering with reference light (S101, S103), a composite image is generated by compositing the plurality of generated tomographic images (S110), and in the case that the composite image is displayed in display means, image processing means updates the composite image displayed in the display means each time a new composite image is generated (S112).COPYRIGHT: (C)2014,JPO&INPIT【課題】 撮影後に撮影の成否確認が行えるようにする。【解決手段】 被測定物体に照射された光の戻り光と参照光を干渉させた干渉光に基づいて前記被測定物の複数の断層画像を生成し(S101,S103)、生成された複数の断層画像を合成して合成画像を生成し(S110)、前記合成画像を表示手段に表示する場合に、前記表示手段に表示された合成画像を、前記画像処理手段により新たな合成画像が生成される毎に更新する(S112)。【選択図】 図3
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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