To provide a mechanism capable of improving detection accuracy of a layer of an analyte.SOLUTION: A complex signal 404 is acquired by performing fast Fourier transform processing (FFT processing) 403 to an interference signal based on interference light obtained by allowing return light from an analyte radiating a measuring beam to interfere with reference light branched from the measuring beam, and a layer detection 430 is performed, for detecting a layer of the analyte by using absolute value information of the acquired complex signal 404 and phase information of the complex signal 404.SELECTED DRAWING: Figure 4【課題】被検体の層の検出精度を向上させることが可能な仕組みを提供する。【解決手段】測定光を照射した被検体からの戻り光と、測定光から分岐した参照光とを干渉させることにより得られた干渉光に基づく干渉信号に対して、高速フーリエ変換処理（ＦＦＴ処理）４０３を行って複素信号４０４を取得し、取得した複素信号４０４の絶対値情報と複素信号４０４の位相情報とを用いて、被検体の層を検出する層検出４３０を行う。【選択図】図４
