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ＭＳ／ＭＳ型質量分析方法及びＭＳ／ＭＳ型質量分析装置
- 专利权人:
- 株式会社島津製作所
- 发明人:
- 梅村 佳克
- 申请号：
- JP20160528667
- 公开号：
- JPWO2015193946(A1)
- 申请日:
- 2014.06.16
- 申请国别(地区):
- 日本
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 摘要：
- 目的成分由来の多価イオンに対するMS/MS分析を行う際に分析者が、脱離断片の質量値ｍLossと、脱離断片の価数ｚLoss、プリカーサイオンの価数ｚPrec、及びプロダクトイオンの価数ｚProdのうちの少なくとも２つの値を入力部（２０）より入力すると、価数算出部（２２１）はｚPrec＝ｚProd＋ｚLossなる関係に基づき非入力の価数ｚPrec又ｚProdを算出する。MS/MS分析が開始されると、プリカーサイオンm/z設定部（２２２）は前段四重極マスフィルタ（１３）を通過させるイオンのm/z=ＭPrecを設定し、通過プロダクトイオンm/z算出部（２２３）は、上記のＭProd、ｍLoss、ｚPrec、ｚProdを、ＭProd＝（ＭPrec×ｚPrec−ｍLoss）／ｚProdなる関係式に適用し、後段四重極マスフィルタ（１６）を通過させるプロダクトイオンのm/z=ＭProdを算出する。これにより、脱離断片が中性でない
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
