一种用于优化经过引入像差的元件的波的聚焦的方法
- 专利权人:
- 超声成像公司;国立科学研究中心
- 发明人:
- M·佩尔诺,M·芬克,M·坦特尔,G·蒙塔尔多,J-F·奥布里,R·辛库斯
- 申请号：
- CN200880005824.0
- 公开号：
- CN101631591B
- 申请日:
- 2008.02.20
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2013
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及一种用于优化波在介质[4]的关注区[6]中的聚焦的方法，其中该波由多个源[3]组成的网经过引入像差的元件[5]发射到介质[4]，该引入像差的元件[5]引起初始的不定相移。根据本发明的方法提出使用所发射波的M-1个连续修正，每次修正引起微扰。根据本发明，在相位和/或振幅分布的每次修正时，测量关注区[6]中的M个微扰，这些测量用于推导出用于最大化在关注区[6]中引起的微扰的最优聚焦特性。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
