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振動周波数計測装置
专利权人:
SUMITOMO RIKO CO LTD
发明人:
YAMAMOTO HIROKAZU,山本 裕和,SHIBATA TETSUYOSHI,柴田 哲好,MURAYAMA MASARU,村山 勝
申请号:
JP2016157671
公开号:
JP2018023618A
申请日:
2016.08.10
申请国别(地区):
JP
年份:
2018
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a vibration frequency measuring device that can measure vibration frequency by a simple method with high accuracy.SOLUTION: A vibration frequency measuring device 60 extracts a predetermined frequency range from a detection signal of a vibration sensor 10a calculates the unit-related value Q1(n,Tf), Q2(n,Tf), based on first data P(T0n) of a reference time T0n and second data P(T0n-0.5Tf) before a half cycle from the reference time T0n, concerning multiple target frequencies f to the filtered processed signal calculates total-related values R1(Tf), R2(Tf), based on multiple unit-related values Q1(n, Tf), Q2(n, Tf) using the reference time T0n as a predetermined time, concerning the multiple target frequencies f and identifies the vibration frequency of the detection signal, based on the total-related values R1(Tf), R2(Tf) of the multiple target frequencies f.SELECTED DRAWING: Figure 9COPYRIGHT: (C)2018,JPO&INPIT【課題】簡易な方法により高精度に振動周波数を計測することができる振動周波数計測装置を提供する。【解決手段】振動周波数計測装置60は、振動センサ10aの検出信号から所定周波数範囲を抽出し、フィルタ処理された処理信号に対して、複数の対象周波数fについて、基準時刻T0nの第一データP(T0n)及び基準時刻T0nから半周期前の第二データP(T0n-0.5Tf)に基づいて単位関連値Q1(n,Tf),Q2(n,Tf)を演算し、複数の対象周波数fについて、基準時刻T0nを所定時間分とする複数の単位関連値Q1(n,Tf),Q2(n,Tf)に基づいて、総合関連値R1(Tf),R2(Tf)を演算し、複数の対象周波数fの総合関連値R1(Tf),R2(Tf)に基づいて、検出信号の振動周波数を特定する。【選択図】図9
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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