半导体装置、以及使用该半导体装置的超声波诊断装置
- 专利权人:
- 株式会社日立制作所
- 发明人:
- 原贤志,坂野顺一
- 申请号：
- CN201110339574.8
- 公开号：
- CN102545860A
- 申请日:
- 2011.10.28
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2012
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明提供具有良好的线性特性，且功率损失小的双向模拟开关的半导体装置，并且提供具有高检测精度的超声波诊断装置。所述内置有可双向接通或者断开的开关电路和所述开关电路的驱动电路的双向模拟开关的半导体装置中，所述驱动电路与第一以及第二电源连接，所述第一电源电压为施加在所述开关电路的输入输出端子上的信号的最大电压值以上，所述第二电源电压为施加在所述开关电路的输入输出端子上的信号的最小电压值以下，并且，所述驱动电路在所述第一电源和所述开关电路之间具有串联连接的齐纳二极管和P型MOSFET。另外，所述超声波诊断装置具有所述半导体装置。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
