The invention relates in particular to an apparatus (10) for analyzing a material (101), said apparatus comprising at least one electromagnetic excitation beam (SA) having at least one excitation wavelength, in particular an excitation light beam And a device 107 for analyzing the material on the basis of the detected reaction signal SR is further provided, which includes an excitation device 100 for generating the reaction signal SR, .본 발명은, 그 중에서도, 재료(101)를 분석하기 위한 장치(10)에 관한 것으로서, 그러한 장치는, 적어도 하나의 여기 파장을 가지는, 적어도 하나의 전자기 여기 빔(SA), 특히 여기 광 빔을 생성하기 위한 여기 방출 장치(100)를 포함하고, 반응 신호(SR)를 검출하기 위한 검출 장치(106), 및 검출된 반응 신호(SR)를 기초로 재료를 분석하기 위한 장치(107)를 더 포함한다.
