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INSTRUMENT TEST ARRANGEMENT
专利权人:
에에르베에 엘렉트로메디찐 게엠베하
发明人:
놀드 베른하르트 토비아스,젤리그 페터,젠커 마티아스
申请号:
KR1020140142703
公开号:
KR1016382470000B1
申请日:
2014.10.21
申请国别(地区):
KR
年份:
2016
代理人:
摘要:
A device test apparatus 18 suitably provided for the medical instrument 11 for argon plasma coagulation is specifically described. The apparatus test apparatus 18 includes an electrode apparatus 18a having at least one test electrode 19. [ Thereby, in the preferred embodiment, the test electrodes 19 are connected to the neutral conductors 15 or to the two neutral conductors 21, 22 of the device 10. The neutral conductors 21 and 22 are insulated from each other and the first coupling impedance 23 between the test electrode 19 and the first neutral conductor 21 and the first coupling impedance 23 between the test electrode 19 and the second neutral conductor 22 The second coupling impedance 24 of the neutral electrode device 12 is equal or at least slightly different so that the dividing circuit 25 assigned to the neutral electrode device 12 is not triggered due to the test spark or arc blow.아르곤 플라즈마 응고소작을 위한 의료 기구(11)용으로 바람직하게 구비된 기구 테스트 장치(18)가 구체적으로 설명된다. 이 기구 테스트 장치(18)는 적어도 하나의 테스트 전극(19)을 구비하는 전극 장치(18a)를 포함한다. 그것에 의해, 바람직한 실시예에 있어서는, 테스트 전극(19)이 중성 도체 케이블(15) 또는 디바이스(10)의 두개의 중성 도체(21, 22)에 접속된다. 중성 도체(21, 22)는 서로 절연되고, 테스트 전극(19)과 제 1 중성 도체(21) 사이의 제 1 결합 임피던스(23)와, 테스트 전극(19)과 제 2 중성 도체(22) 사이의 제 2 결합 임피던스(24)는 동일하거나, 기껏해야 약간 상이해서, 중성 전극 장치(12)에 할당된 분할 회로(25)는 테스트 스파크 또는 아크의 타격으로 인해 트리거되지 않는다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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