An apparatus arranged to analyze a structure, the apparatus comprising: a control unit a light source arranged to irradiate a target area of the structure and a light detector in communication with said control unit, and arranged to detect said irradiated light from said light source after interaction with the target area, said control unit arranged to: transform amplitudes of the detected light to the optical thickness domain, said transform comprising a bilinear transform determine morphological information of the target area responsive to said performed transform. The determined morphological information is optionally displayed within a three dimensional view of the target area.Linvention concerne un appareil conçu pour analyser une structure, lappareil comprend une unité de commande une source de lumière conçue pour éclairer une zone cible de la structure et un détecteur de lumière en communication avec ladite unité de commande, et conçue pour détecter la lumière transmise par la source de lumière après interaction avec la zone cible. Lunité de commande est conçue pour transformer les amplitudes de la lumière détectée vers le domaine dépaisseur optique, laquelle transformation comprend une transformation bilinéaire à déterminer des informations morphologiques de la zone cible en réponse à la transformation exécutée. Les informations morphologiques déterminées sont éventuellement affichées dans une visualisation 3D de la zone cible.
