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一种全场Z向位移测量系统
- 专利权人:
- 深圳奥比中光科技有限公司
- 发明人:
- 黄源浩,许宏淮,张程煜
- 申请号：
- CN201410430984.7
- 公开号：
- CN104457581B
- 申请日:
- 2014.08.28
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 邓猛烈`胡彬
- 摘要：
- 本发明涉及全场激光测振系统技术领域，尤其涉及一种全场Z向位移测量系统。通过使用空间域相移法在传统激光剪切散斑干涉法的基础上实现动态测量，并进一步利用激光剪切散斑干涉法与多普勒干涉法的同质性和相似的测量精度，通过单点的时间域多普勒干涉法帮助激光剪切散斑干涉法实现绝对位移测量，经过这几个方面的改进，本发明所述的测量系统可以实现全场Z向位移测量，能实现高精度全场绝对值振动测量，能进行瞬态深度测量，在深度测量、三维传感，以及航空、航天的振动测量和新材料表征检测等领域的深度测量具有重要应用，在汽车开发领域、机械工业领域以及我国的装备制造业等涉及复杂结构振动优化的领域都有非常重大的应用。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
