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光学相干断层成像系统
专利权人:
深圳市太赫兹科技创新研究院;深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司
发明人:
沈耀春,丁庆,杨旻蔚
申请号:
CN201810264524.X
公开号:
CN108514404B
申请日:
2018.03.28
申请国别(地区):
CN
年份:
2021
代理人:
摘要:
本发明涉及一种光学相干断层成像系统。该系统包括光源、光纤耦合器、参考臂、样品臂、信号采集模块及信号处理模块。光源提供初始光;光纤耦合器将初始光分为参考光和样品光;参考臂将参考光的反射光传回至光纤耦合器;样品臂利用样品光检测待测样品,样品光在待测样品产生后向散射光传回至光纤耦合器;后向散射光与反射光在光纤耦合器内发生干涉形成干涉光;干涉光被光纤耦合器分为多路干涉光谱;信号采集模块分别采集各干涉光谱;信号处理模块根据各路干涉光谱的谱线信号生成所述待测样品的检测图像。上述系统,可以消除虚像干扰和光信号噪声干扰,从而使得上述系统的成像效果较好。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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