The invention relates to an X-ray imaging device (100), particularly a Spectral-CT scanner, that comprises an X-ray source (10) for generating X-radiation with an energy spectrum (P(E,t)) which varies continuously during an observation period (T). In a preferred embodiment, the radiation (X) is attenuated in an object (1) according to an energy- dependent attenuation coefficient μ(E,r), the transmitted radiation is measured by sensor units (22) of a detector (20, 30), and the resulting measurement signal (i(t)) is sampled and A/D converted. This is preferably done by an oversampling A/D converter, for example a ΣΔ-ADC. The tube voltage (U(t)) that drives the X-ray source is sampled with high frequency. In an evaluation system (50), these sampled measurement values can be associated with corresponding effective energy spectra (Φ(E)) to determine the energy dependent attenuation coefficient μ(E,r).Linvention concerne un dispositif dimagerie à rayons X (100), en particulier un scanner CT spectral, comprenant une source de rayons X (10) permettant de générer un rayonnement X avec un spectre dénergie (P(E,t)) qui varie de manière continue pendant une période dobservation (T). Dans un mode de réalisation préféré, le rayonnement (X) est atténué dans un objet (1) selon un coefficient datténuation lié à lénergie µ(E,r), le rayonnement émis est mesuré par des unités capteurs (22) dun détecteur (20, 30), et le signal de mesure résultant (i(t)) est échantillonné et converti danalogique en numérique. Cette opération est réalisée de préférence par un convertisseur A/N de suréchantillonnage, par exemple un ΣΔ-ADC. La tension de tube (U(t)) qui excite la source de rayons X est échantillonnée à haute fréquence. Dans un système dévaluation (50), ces valeurs de mesure échantillonnées peuvent être associées à des spectres dénergie efficaces correspondants (Φ(E)) pour déterminer le coefficient datténuation lié à lénergie µ (E,r).
