一种质子断层扫描方法及装置
- 专利权人:
- 中国工程物理研究院流体物理研究所
- 发明人:
- 魏涛,杨国君,李一丁,张小丁,江孝国,张卓,石金水
- 申请号：
- CN201410218120.9
- 公开号：
- CN103977506A
- 申请日:
- 2014.05.22
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2014
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明公开了一种质子断层扫描方法及装置，所述方法包括：首先利用治疗头发射出质子束，然后对所述质子束进行调制匹配整形，使所述质子束照射在客体的预定部位上，然后通过磁透镜组使所述质子束实现1：1成像，最后利用闪烁体晶体和CCD相机实现图像的实时采集，解决了现有的质子断层扫描方法存在扫描不准确存在误差，空间分辨率较差的技术问题，实现了制造断层扫描方法扫描准确扫描精度较高，误差较小，且空间分辨率较高的技术效果。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
