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低场磁共振颅脑常规序列快速扫描方法
专利权人:
丰县人民医院
发明人:
丁长青,张成彬
申请号:
CN201210162863.X
公开号:
CN102670203B
申请日:
2012.05.24
申请国别(地区):
CN
年份:
2013
代理人:
摘要:
本发明公开了一种低场磁共振颅脑常规序列快速扫描方法,该方法为SE/FSE序列T1WI、T2WI颅脑,FOV轴位为33cm,层厚5~8cm,next1次;FOV矢冠状位为35cm,层厚4~5cm,next1次。每个序列扫描时间明显缩小至原来的1/4,一个工作日7小时从原来的检查15人次增加至30余人次;由于扫描快,总体伪影明显减少,扫描成功率高,序列重新扫描率从原来的2%下降至3‰以下;由于采用大视野扫描,累及超过2万例图像可显示常规视野不能看到的病变,因此性价比极高。用于低场磁共振MRI颅脑常规序列自旋回波序列SE、快速自旋回波序列FSE扫描。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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