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超音波探触子とその製造方法ならびに超音波診断装置
专利权人:
HITACHI LTD
发明人:
MACHIDA SHUNTARO,町田 俊太郎
申请号:
JP2016033774
公开号:
JP2017148258A
申请日:
2016.02.25
申请国别(地区):
JP
年份:
2017
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an ultrasonic probe having improved detection accuracy of ultrasonic waves.SOLUTION: The ultrasonic probe includes: an acoustic material AA having a plane FS1, a plane FS2, and a plane FS3 sequentially aligned in a Y direction and a chip CP1, a chip CP2, and a chip CP3 that are mounted on the plane FS1, the plane FS2, and the plane FS3, and on which a plurality of CMUT cells are disposed into an array shape respectively. In a sectional view in the Y direction, the plane FS1 has an inclination angle β1 with respect to the plane FS2, the plane FS3 has an inclination angle β2 with respect to the plane FS2 and, in a plane view in the Y direction, an interval between the chip CP1 and the chip CP2 is substantially equal to an interval between the chip CP2 and the chip CP3.SELECTED DRAWING: Figure 5COPYRIGHT: (C)2017,JPO&INPIT【課題】超音波の検出精度を向上させた超音波探触子を提供する。【解決手段】超音波探触子は、Y方向において、順に配列された平面FS1、平面FS2および平面FS3を有する吸音材AAと、平面FS1上、平面FS2上および平面FS3上に搭載され、各々に複数のCMUTセルがアレイ状に配置されたチップCP1、チップCP2およびチップCP3と、を有する。そして、Y方向における断面視にて、平面FS1は、平面FS2に対して傾斜角β1を、平面FS3は、平面FS2に対して傾斜角β2を有し、Y方向における平面視にて、チップCP1とチップCP2の間隔は、チップCP2とチップCP3の間隔とほぼ等しい。【選択図】図5
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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