AHN, JIN HYUNKR,안진현,KIM, JAE MINKR,김재민,PARK, DAE GYUKR,박대규,PARK, SANG YOUNGKR,박상영,CHO, CHANG HUNKR,조창훈,HWANG, KANG MINKR,황강민
申请号：
KR1020150144837
公开号：
KR1020170045006A
申请日:
2015.10.16
申请国别(地区):
KR
年份:
2017
代理人:
摘要：
A method of correcting defects in an X-ray detection image representing a subject to be photographed and including a grid pattern and a defect is disclosed. The method may includes a step of obtaining a first image from which the defect is excluded from the X-ray detection image, a step of obtaining a second image in which the defect is corrected from the detected image by using the first image, a step of obtaining a third image in which the grid pattern is corrected in the second image, and a step of obtaining a defect correction image in which the defect is corrected in the third image.COPYRIGHT KIPO 2017촬영 대상을 나타내며 그리드 패턴(grid pattern) 및 디펙트(defect)를 포함하는 X선 검출 영상에서 상기 디펙트를 보정하는 방법이 개시된다. 본 방법은, 상기 X선 검출 영상으로부터 상기 디펙트가 제외된 제1 영상을 얻는 단계, 상기 제1 영상을 이용해서 상기 검출 영상으로부터 상기 디펙트가 보정된 제2 영상을 얻는 단계, 상기 제2 영상에서 상기 그리드 패턴이 보정된 제3 영상을 얻는 단계, 및 상기 제3 영상에서 상기 디펙트가 보정된 디펙트 보정 영상을 얻는 단계를 포함할 수 있다.
