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SYSTÈME, UNITÉ DE COMMANDE ET PROCÉDÉ PERMETTANT DE DÉTERMINER LA CONDUCTANCE D'UN OBJET
专利权人:
INC.;KIMBERLY-CLARK WORLDWIDE
发明人:
FELDKAMP, Joseph, R.
申请号:
IBIB2013/058621
公开号:
WO2014/064554A1
申请日:
2013.09.17
申请国别(地区):
IB
年份:
2014
代理人:
摘要:
A system for determining a conductance of an object includes a sensor configured to emit an electromagnetic field when an excitation signal is received, wherein the electromagnetic field interacts with the object when the object is positioned within the electromagnetic field. A signal processing circuit is coupled to the sensor and configured to provide an adjustable capacitance to the sensor to adjust a phase angle of a current flowing through the sensor, to generate a voltage measurement representative of a voltage across the sensor, and to generate a current measurement representative of the current flowing through the sensor. A controller is coupled to the signal processing circuit and configured to calculate an admittance of the sensor based on the voltage measurement and the current measurement, and to determine a conductance of the object based on the calculated admittance of the sensor.La présente invention concerne un système permettant de déterminer une conductance d'un objet. Le système comprend un capteur conçu pour émettre un champ électromagnétique lorsqu'un signal d'excitation est reçu, le champ électromagnétique interagissant avec l'objet lorsque l'objet est positionné dans le champ électromagnétique. Un circuit de traitement de signaux est couplé au capteur et conçu pour fournir une capacité réglable au capteur afin d'ajuster un angle de phase d'un courant passant dans le capteur, afin de produire une mesure de tension représentative d'une tension aux bornes du capteur, et de produire une mesure de courant représentative du courant passant dans le capteur. Une unité de commande est couplée au circuit de traitement de signaux et conçue pour calculer une admittance du capteur sur la base de la mesure de la tension et de la mesure du courant, et pour déterminer une conductance de l'objet sur la base de l'admittance calculée du capteur.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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