用于计算X射线断层成像的成像相选择的系统和方法
- 专利权人:
- 通用电气公司
- 发明人:
- 谢强,S.A.西罗希,R.A.尼尔森,S.N.纳拉亚南,G.曹
- 申请号：
- CN201580049243.7
- 公开号：
- CN106687043A
- 申请日:
- 2015.08.04
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 摘要：
- 一种成像系统包括计算X射线断层(CT)采集单元和处理单元。所述CT采集单元包括X射线源和CT检测器，所述CT检测器配置成收集待成像对象的CT成像数据。所述处理单元包括至少一个处理器，所述处理器可操作地连接到所述CT采集单元。所述处理单元配置成：在所述CT采集单元围绕所述待成像对象旋转期间，控制所述CT采集单元来收集至少一个样本投影；将所述至少一个样本投影的强度与参考投影的强度进行比较；基于所述至少一个样本投影的强度与所述参考投影的强度的比较，选择执行成像扫描的时间；以及控制所述CT采集单元执行所述成像扫描。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
