用于正电子断层成像的方法和图像重建方法及系统
- 专利权人:
- 山西锦地裕成医疗设备有限公司;中国科学院高能物理研究所
- 发明人:
- 孙校丽,刘双全,贠明凯,高娟,李默涵,章志明,魏龙,王骏飞,刘志蓉,韩强强
- 申请号：
- CN201610218639.6
- 公开号：
- CN107260194A
- 申请日:
- 2016.04.08
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 摘要：
- 本申请涉及用于正电子断层成像的方法和图像重建方法及系统。用于获得晶体阵列的光子入射响应分布的方法包括：将所述晶体阵列的各晶体条基于入射面连续等分为多个入射部分；将入射角度范围等分为多个角度部分；对各个入射部分及各个角度部分，利用模拟软件进行光子入射模拟，得到响应占比。根据本公开的方法，充分考虑伽马光子入射晶体条的角度和位置因素，生成的系统矩阵精确度高，能够提高PET系统的空间分辨率。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
