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DISPOSITIF D'INSPECTION D'IMAGE, PROCÉDÉ D'INSPECTION D'IMAGE ET COMPOSANT DE DISPOSITIF D'INSPECTION D'IMAGE
专利权人:
株式会社QDレーザ;QD LASER; INC.;QD LASER, INC.
发明人:
MORINO, Seiji,森野誠治,SUZUKI, Makoto,鈴木誠,ISHIMOTO, Manabu,石本学
申请号:
JPJP2017/028558
公开号:
WO2018/034181A1
申请日:
2017.08.07
申请国别(地区):
JP
年份:
2018
代理人:
摘要:
An image inspection device provided with: a mounting unit 10 having mounted thereon an image projection device 30 for directly projecting an image onto a user's retina; a condensing lens 12 for condensing a light beam 50 output from the image projection device 30 mounted on the mounting unit 10; a part 14 on which an image is to be projected, the part 14 being irradiated with the light beam condensed by the condensing lens 12 such that an inspection image is projected thereon; and an inspection unit 22 for inspecting the inspection image projected on the part 14 on which an image is projected.La présente invention concerne un dispositif d'inspection d'image qui est pourvu de : une unité de montage 10 sur laquelle est monté un dispositif de projection d'image 30 pour projeter directement une image sur la rétine d'un utilisateur ; une lentille de condensation 12 pour condenser un faisceau lumineux 50 émis par le dispositif de projection d'image 30 monté sur l'unité de montage 10 ; une partie 14 sur laquelle une image doit être projetée, la partie 14 étant irradiée avec le faisceau lumineux condensé par la lentille de condensation 12 de sorte qu'une image d'inspection soit projetée sur celle-ci ; et une unité d'inspection 22 pour inspecter l'image d'inspection projetée sur la partie 14 sur laquelle une image est projetée.ユーザの網膜に画像を直接投影する画像投影装置30が搭載される搭載部10と、搭載部10に搭載された画像投影装置30から出射される光線50を集光させる集光レンズ12と、集光レンズ12で集光された光線50が照射されて検査画像が投影される被投影部14と、被投影部14に投影された前記検査画像を検査する検査部22と、を備える画像検査装置。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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