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分光計測装置及び分光計測方法
专利权人:
国立大学法人;香川大学
发明人:
石丸 伊知郎
申请号:
JP2007159097
公开号:
JP5078004B2
申请日:
2007.06.15
申请国别(地区):
JP
年份:
2012
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a spectrometer for non-invasively and accurately measuring biogenic substances, and also to provide its method.SOLUTION: Scattered light and transmitted light radially emitted in various directions from one bright spot within the palm S of a hand enter an objective lens 12, pass therethrough, and then arrive at a fixed mirror part 15 and a movable mirror part 16, separately, of a phase shifter 14. The light is reflected by the mirror parts 15 and 16, respectively, and then forms an interference figure on an imaging surface of a detection part 24 through an image-forming lens 22. Moving the mirror part 16 in such a state causes the intensity of interference light to gradually change on the imaging surface of the detection part, providing a waveform of an imaging intensity change (interference light intensity change) called an interferogram. By Fourier-transforming this interferogram spectral characteristics, or wavelength-by-wavelength relative intensities, of the scattered light and transmitted light, are acquired.COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT【課題】生体成分を無侵襲で精度良く計測することができる分光計測装置及びその方法を提供する【解決手段】手のひらSの内部の1輝点から多様な方向に向かって放射状に生じる散乱光や透過光は、対物レンズ12に入射し、透過した後、位相シフター14の固定ミラー部15及び可動ミラー部16に分離して到達する。そして、固定ミラー部15及び可動ミラー部16でそれぞれ反射された後、結像レンズ22により検出部24の結像面で干渉像を形成する。このような状態で、可動ミラー部16を移動させると、検出部の結像面における干渉光の強度が徐々に変化し、インターフェログラムと呼ばれる結像強度変化(干渉光強度変化)の波形が得られる。このインターフェログラムをフーリエ変換することにより、散乱光及び透過光の波長毎の相対強度である分光特性を取得することができる。【選択図】図2
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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