一种X射线荧光增强的透视成像方法

• 收藏
• 分享

专利权人:

清华大学

发明人:

李亮,陈志强,张丽,赵自然,邢宇翔,高河伟,方伟

申请号：

CN201911354476.4

公开号：

CN111157560A

申请日:

2019.25.12

申请国别(地区):

CN

年份:

2020

代理人:

摘要：

本发明涉及一种X射线荧光增强的透视成像方法,属于辐射成像技术领域。本发明方法以传统的X射线透视成像;对人体等物体进行X射线扫描成像,同时采集X射线束穿过被扫描物体后衰减的信息,以及该射线束照射物体内的某些高Z元素而激发产生的特征X光子,同时获得X射线透视图像和X射线荧光图像。由于X射线透视可以提供高空间分辨率的物体结构信息,而X射线荧光可以针对特异元素(某些特定的高Z元素,例如含碘、钆、金等元素的靶向药物)实现高灵敏度的浓度分布成像,并通过图像融合技术实现两种不同模态图像的融合成像。因此,本发明的成像装置可以为临床医学、安检等领域提供高质量的多模态信息图像。

来源网站：

中国工程科技知识中心

来源网址：

http://www.ckcest.cn/home/