PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an X-ray imaging apparatus that can reduce pitch variations of moire on a detection surface of a detector.SOLUTION: The X-ray imaging apparatus 100 includes: a diffraction grating 3 that forms interference patterns where a bright part and a dark part are periodically arranged by diffracting X-ray emitted from an X-ray source a shielding grating 4 where a shielding part for shielding the X-ray from the diffraction grating and a penetration part for penetrating the X-ray from the diffraction grating are periodically arranged and the detector 5 for detecting the X-ray from the shielding grating. The pitches of the interference patterns formed on the shielding grating 4 are different in the center region of the shielding grating defining an intersection point of the shielding grating with an optical axis 2, as a center, and in a circumferential region of the shielding grating, spaced apart from the optical axis of the center of the shielding grating. Pitches of the shielding grating correspond to those of the interference patterns on the shielding grating.COPYRIGHT: (C)2013,JPO&INPIT【課題】 検出器の検出面上におけるモアレのピッチのばらつきを低減することを可能にするX線撮像装置を提供すること。【解決手段】 X線撮像装置100は、X線源から発散するX線を回折することで暗部と明部とが周期的に配列した干渉パターンを形成する回折格子3と、回折格子からのX線を遮る遮蔽部と回折格子からのX線を透過する透過部とが周期的に配列している遮蔽格子4と、遮蔽格子からのX線を検出する検出器5と、を備える。遮蔽格子4上に形成される干渉パターンのピッチは、遮蔽格子と光軸2の交点を中心とする遮蔽格子の中心部と、遮蔽格子の中心部よりも光軸から離れた遮蔽格子の周辺部とで異なり、遮蔽格子のピッチは、遮蔽格子上の干渉パターンのピッチに対応している。【選択図】 図1
