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수직형 탐침을 구비한 신경 탐침 구조체
专利权人:
发明人:
KIM, JIN SEOKKR,김진석,SUH JUN KYO FRANCISUS,서준교,KIM, TAE HYUNGKR,김태형,LEE, BOO YONGKR,이부용,JIN, JU YOUNGKR,진주영,JEONG, JIN WOOKR,정진우
申请号:
KR1020130157112
公开号:
KR1015006530000B1
申请日:
2013.12.17
申请国别(地区):
KR
年份:
2015
代理人:
摘要:
A neural probe structure combined with the cut nerve to collect a neural signal comprises a probe including an electrode for collecting the neural signal and a body supporting the probe. The probe is formed in a vertical direction to an upper surface of the body such that the probe is inserted into the nerve from a cross section of the nerve in a length direction of the nerve. The nerve probe structure is electrically connected to the nerve without the regeneration of the nerve by directly inserting the probe with the electrode into the nerve, and thus increases the contact area between the nerve and the electrode and minimized secondary damage of the nerve.COPYRIGHT KIPO 2015절단된 신경에 결합되어 신경 신호를 수집하기 위한 신경 탐침 구조체는, 상기 신경 신호를 수집하는 전극을 구비한 탐침과, 상기 탐침을 지지하는 몸체를 포함하고, 상기 탐침은 상기 신경의 절단면에서 상기 신경의 길이 방향으로 신경 내부에 삽입되도록 상기 몸체의 상면과 수직한 방향으로 형성된다. 신경 탐침 구조체는 전극이 구비된 탐침을 신경에 직접 삽입하여 신경의 재생 없이도 신경과 전기적으로 연결되며, 신경과 전극의 접촉 면적을 증가시키면서도 신경의 2차적 손상을 최소화한다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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