用于磁感应阻抗测量装置的平面线圈布置
- 专利权人:
- 皇家飞利浦电子股份有限公司
- 发明人:
- F·J·罗塞利费雷尔,C·H·伊格尼,M·哈姆施
- 申请号：
- CN201280007510.0
- 公开号：
- CN103442634A
- 申请日:
- 2012.02.01
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2013
- 代理人:
- 摘要：
- 一种用于磁感应阻抗测量装置的平面线圈布置（400），包括激励线圈（102）和探测线圈（404），所述激励线圈（102）被配置为在对象中生成磁激励场，所述探测线圈（404）被配置为探测磁响应场，所述磁响应场响应于所述磁激励场在所述对象中感生电流而生成。为了最小化所述磁激励场在所述探测线圈（404）中的影响，所述探测线圈（404）的形状关于所述激励线圈（102）径向对称，并且相对于所述激励线圈（102）被布置为使得所述磁激励场在所述探测线圈（404）中最小化。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
