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一种X荧光光谱法对土壤中重金属元素铅的快速测定方法
- 专利权人:
- 江苏天瑞仪器股份有限公司
- 发明人:
- 应刚,吴敏
- 申请号：
- CN201610776494.1
- 公开号：
- CN106248708A
- 申请日:
- 2016.08.31
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2016
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明公开了一种X荧光光谱法对土壤中重金属元素铅的快速测定方法，包括：1）取一定量土壤粉末；2）将所述土壤粉末装入样品杯并用手动压片机压实，形成待测样品；3）将待测样品放入样品测试盒中，该测试盒包括：外壳，所述外壳上端具有孔，孔内安装有弹片；样品台，所述样品台安装在所述外壳内部的底端；手持机，所述手持机前端有N个凹槽，所述手持机通过凹槽和所述弹片的配合与所述样品测试盒联接；4）利用X荧光光谱法测量待测样品的X荧光强度；以及5）基于所述待测样品的X荧光强度，计算得到该土壤中的铅元素含量；本发明所述方法采用便携式X荧光光谱法可对土壤样品直接进行铅元素定量分析，测试准确率达到96%以上，测试方法操作简单，无污染，无耗材，同时，本发明的实施例的测定方法还具有如下优点：体积小，易携带，方便野外工作，现
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
