源光栅、干涉计和被检体信息获取系统
- 专利权人:
- 佳能株式会社
- 发明人:
- 佐藤玄太
- 申请号：
- CN201410337362.X
- 公开号：
- CN104287755A
- 申请日:
- 2014.07.16
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2015
- 代理人:
- 摘要：
- 公开了源光栅、干涉计和被检体信息获取系统。源光栅包括：第一副源光栅，其中透过X射线的第一透过部和屏蔽X射线的第一屏蔽部在第一方向上交替排列；以及第二副源光栅，其中透过X射线的第二透过部和屏蔽X射线的第二屏蔽部在与第一方向正交的第二方向上交替排列。第一副源光栅是弯曲的，使得该弯曲上的两个位置在第一方向上对齐。第二副源光栅是弯曲的，使得该弯曲上的两个位置在第二方向上对齐。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
