Die Erfindung betrifft eine Visualisierungsvorrichtung (10), insbesondere ein Operationsmikroskop. Die Visualisierungsvorrichtung (10) enthält eine Abbildungsoptik (12) für das Erzeugen eines Beobachtungsbildes eines in einem Objektbereich (20) angeordneten Objekts. In der Visualisierungsvorrichtung gibt es eine Anzeigeeinrichtung (34) für das Visualisieren eines dem Beobachtungsbild des Objekts überlagerten Bildes (54). Zudem weist die Visualisierungsvorrichtung eine Bilderfassungseinrichtung (26) für das Erfassen eines Bilds des in dem Objektbereich (20) angeordneten Objekts auf, die einen Bildsensor (28) enthält. Die Visualisierungsvorrichtung (10) enthält ein Rechnersystem (43), in dem aus dem mit der Bilderfassungseinrichtung (26) erfassten Bild des Objekts Bilddaten berechnet und an die Anzeigeeinrichtung (34) übermittelt werden. Für das Bestimmen wenigstens eines Korrekturparameters aus der Parametergruppe Vergrößerung, azimutale Verdrehung und Verschiebung für z. B. von Fertigungs-, Einbau-, sowie Justagetoleranzen der Anzeigeeinrichtung (34) hervorgerufene systematische Fehler des mit der Anzeigeeinrichtung (34) visualisierten Bildes ist das mit der Abbildungsoptik (12) erzeugte Beobachtungsbild des Objekts dem mit der Bilderfassungseinrichtung (26) erfassten als ein mit der Anzeigeeinrichtung (34) angezeigtes Bild des Objekts überlagerbar.The invention relates to a visualisation device (10), in particular a surgical microscope. The visualizing device (10) contains an optical imaging system (12) for generating an observation image of a in a specimen area (20) arranged object. In the visualizing device, there is a display device (34) for the visualization of a the visualization diagram of the object superimposed image (54). In addition, the visualizing device has an imaging device (26) for detecting an image of the in the object region (20) arranged object on which an image sensor (28) contains. The visualizing device (10) contains a computer system (43), in
