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엑스선 영상 처리 시스템 및 그 사용 방법
专利权人:
VATECH CO.; LTD.
发明人:
HAN, TAE HEEKR,한태희,SEO, DONG WANKR,서동완,IM, SE YEOLKR,임세열
申请号:
KR1020150043224
公开号:
KR1020160115469A
申请日:
2015.03.27
申请国别(地区):
KR
年份:
2016
代理人:
摘要:
Provided is a method which can measure a practical length of a specific object in a panoramic image. The present invention provides a method for using an image processing system which comprises the steps of: (a) displaying, in a display device, a panoramic image generated on the basis of three-dimensional CT image data and (b) measuring and displaying a three-dimensional length of an object part by using three-dimensional information of the CT image data when the object part whose length is to be measured in the panoramic image is selected by a user.COPYRIGHT KIPO 2016본 발명은 (a) 3차원 CT 영상 데이터를 기반으로 생성된 파노라마 영상을 표시장치에 표시하는 단계와 (b) 사용자에 의해 상기 파노라마 영상에서 길이 측정을 원하는 개체 부분이 선택되면, 상기 CT 영상 데이터의 3차원 정보를 이용하여 상기 개체 부분의 3차원 길이를 산출하여 표시하는 단계를 포함하는 영상 처리 시스템 사용 방법을 제공한다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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