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用于检测综合验光仪的光学检测装置和发光装置
- 专利权人:
- 中国计量科学研究院
- 发明人:
- 刘文丽,李飞,洪宝玉,张吉焱,马振亚,孙劼
- 申请号：
- CN201320529908.2
- 公开号：
- CN203443765U
- 申请日:
- 2013.08.28
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2014
- 代理人:
- 摘要：
- 本实用新型提供了一种用于检测综合验光仪的光学检测装置和发光装置。发光装置包括：光源；分划板；发光筒，光源和分划板分别设置在发光筒的两端；安装座，发光筒绕发光筒的轴线可枢转地设置在安装座上。由于本实用新型中的光源和分划板集成在发光装置的发光筒中，因而发光装置既能在光学系统中起到照亮光路的作用，还是光学系统中的目标参考物，从而简化了光学系统的结构，提高了光学系统的工作可靠性。由于设置有分划板的发光筒可枢转地设置在安装座上，因而提高了发光装置的运动自由度，使发光装置可以满足不同光学系统的使用要求，从而扩大了发光装置的使用范围、提高了发光装置的使用可靠性。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
