The present invention teaches a method and system for computing an alternative electron density map of an examination volume. The processing system is configured to compute a first electron density map using a plurality of imaging data, compute a second electron density map, wherein the second electron density map is a simplified version of the first electron density map, and compute the alternative electron density map, using the first electron density map and the second electron density map.La présente invention concerne un procédé et un système pour le calcul d'une carte de densité électronique alternative d'un volume d'examen. Le système de traitement est configuré pour calculer une première carte de densité électronique à l'aide d'une multitude de données d'imagerie, calculer une deuxième carte de densité électronique qui est une version simplifiée de la première carte de densité électronique, et calculer la carte de densité électronique alternative à l'aide de la première et de la deuxième carte de densité électronique.
