Light beams from light sources (1, 2) are scanned by a galvanometer mirror (10a) and illuminated on a predetermined location (15b) of an object (15) to be observed via an objective (14). Reflected light from the object is rescanned by the galvanometer mirror (10a), and a two-dimensional image is acquired by means of an image capturing element (25). A measuring means configured from an OCT interference optical system (32) is provided as a branch in the optical path between the objective (14) and the galvanometer mirror (10a) or coupled therein, and a tomogram of the object is acquired. With such a configuration, a two-dimensional image and a tomogram of the object can be displayed on a display device (28) simultaneously.Selon linvention, des faisceaux lumineux provenant de sources de lumière (1, 2) sont balayés par un miroir galvanomètre (10a) et dirigés pour illuminer un emplacement prédéterminé (15b) dun objet (15) devant être observé par lintermédiaire dun objectif (14). Une lumière réfléchie par lobjet est rebalayée par le miroir galvanomètre (10a), et une image bidimensionnelle est acquise au moyen dun élément de capture dimage (25). Un moyen de mesure configuré à partir dun système optique dinterférence OCT (32) est prévu sous la forme dune branche dans le trajet optique entre lobjectif (14) et le miroir galvanomètre (10a), ou couplé dans celui-ci, et un tomogramme de lobjet est acquis. Grâce à une telle configuration, une image bidimensionnelle et un tomogramme de lobjet peuvent être affichés simultanément sur un dispositif daffichage (28).光源1、2からの光ビームがガルバノミラー10aにより走査され、対物レンズ14を介して観察対象物体15の所定部位15bに照射される。対象物体からの反射光がガルバノミラー10aにより再走査され、撮像素子25を介して2次元的な画像が取得される。対物レンズ14とガルバノミラー10a間の光路においてOCTの干渉光学系32からなる計測手段が分岐または結合され、対象物体の断層画像が取得される。このような構成では、対象物体の2次元的な画像と断層画像を、表示装置28に同時に表示させることができる。
