谷物颗粒硬度测定仪
- 专利权人:
- 北京东孚久恒仪器技术有限公司
- 发明人:
- 郝伟
- 申请号：
- CN200820078582.5
- 公开号：
- CN201152844Y
- 申请日:
- 2008.01.17
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2008
- 代理人:
- 赵燕力
- 摘要：
- 本实用新型为一种谷物颗粒硬度测定仪，所述硬度测定仪包括一基座，所述基座上设有一第一轧辊；一支撑座设置在所述基座上，所述支撑座上与第一轧辊相对位置设置一第二轧辊，两轧辊相向转动，且两轧辊之间具有一间隙；所述基座与支撑座之间至少设有一力传感器。本实用新型的谷物颗粒硬度测定仪，由于两轧辊是连续相向转动的，在两轧辊之间可以连续进行多个单颗谷物颗粒的硬度测定，即通过喂料装置可依次将多个单颗谷物颗粒送入第一轧辊与第二轧辊之间的间隙，使谷物群体颗粒的检测过程实现连续进行，可进行谷物颗粒大批量快速测定，克服了现有颗粒硬度计在谷物群体颗粒硬度判定方面的不足。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
