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X射线成像设备和控制所述设备的方法
专利权人:
三星电子株式会社
发明人:
金圣洙,吴炫和,姜东求,姜声训,成映勋,李刚仪,韩锡旼
申请号:
CN201310573610.6
公开号:
CN103908273A
申请日:
2013.11.15
申请国别(地区):
CN
年份:
2014
代理人:
摘要:
这里公开了一种X射线成像设备和控制所述设备的方法,所述设备和方法估计X射线检测器的能量响应特性并基于估计的响应特性校正X射线数据的失真。所述X射线成像设备包括:X射线产生器,产生和发射X射线;X射线检测器,检测发射的X射线并获得X射线数据;控制器,将X射线数据转换为X射线特性坐标,并从测量数据和参考数据之间的关系估计X射线检测器的响应特性函数,其中,所述测量数据和参考数据被转换为X射线特性坐标。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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