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眼軸長測定装置、眼球形状情報取得方法、および眼球形状情報取得プログラム
专利权人:
NIDEK CO LTD
发明人:
KAWAI NORIJI,河合 規二,ENDO MASAKAZU,遠藤 雅和
申请号:
JP2015040809
公开号:
JP2016158906A
申请日:
2015.03.02
申请国别(地区):
JP
年份:
2016
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an eye axial length measurement device, eye ball shape information acquisition method and eye ball shape information acquisition program allowing for confirmation of the eye ball shape of an eye to be examined.SOLUTION: The eye axial length measurement device is provided that comprises an interference optical system for detecting an interference signal between measurement light with which an eye to be examined is irradiated and reference light. The eye axial length measurement device comprises: measurement position change means for changing a measurement position of eye axial length on the eye to be examined and acquisition means for acquiring the eye axial length of the eye to be examined on the basis of the interference signal from the interference optical system. The acquisition means acquires eye axial length at a plurality of different measurement positions changed by the measurement position change means, and acquires eye ball shape information of the eye to be examined on the basis of the eye axial length at the plurality of measurement positions.SELECTED DRAWING: Figure 3COPYRIGHT: (C)2016,JPO&INPIT【課題】 被検眼の眼球形状を確認できる眼軸長測定装置、眼球形状情報取得方法、および眼球形状情報取得プログラムを提供する。【解決手段】 被検眼に照射された測定光と参照光との干渉信号を検出する干渉光学系を備える眼軸長測定装置であって、前記被検眼上における眼軸長の測定位置を変更する測定位置変更手段と、前記干渉光学系からの干渉信号に基づいて前記被検眼の眼軸長を取得する取得手段と、を備え、前記取得手段は、前記測定位置変更手段によって変更された異なる複数の測定位置において眼軸長を取得し、前記複数の測定位置における眼軸長に基づいて、前記被検眼の眼球形状情報を取得することを特徴とする。【選択図】 図3
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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