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闪烁器阵列、制造闪烁器阵列的方法、放射线检测器及放射线检查装置
专利权人:
株式会社东芝
发明人:
林诚,近藤弘康,市川浩,足达祥卓,福田幸洋
申请号:
CN201780075691.3
公开号:
CN110050311A
申请日:
2017.05.12
申请国别(地区):
CN
年份:
2019
代理人:
摘要:
本发明提供一种闪烁器阵列,其具备第1闪烁器元件、第2闪烁器元件和反射体,该反射体设置于第1及第2闪烁器元件之间且第1及第2闪烁器元件之间的宽度为80μm以下。第1及第2闪烁器元件分别具备含有稀土类氧硫化物荧光体的多晶体,多晶体具有面积为1mm以下×1mm以下的放射线入射面。多晶体的晶粒的平均晶体粒径为5μm~30μm,平均晶体粒径由在通过使用扫描型电子显微镜观察多晶体而得到的观察图像上测定的晶粒的平均切片长来定义。存在于多晶体的表面中的缺陷的最大长度或最大直径为40μm以下。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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